バッテリーテスター
卓上型デジタルLCRブリッジおよびDCRコンポーネントメータ
商品番号 : CD07
価格は以下に基づいて変動します 仕様とカスタマイズ
- 測定帯域幅
- 10 Hz - 100 kHz (連続 1 Hz 分解能)
- 基本測定精度
- 0.20%
- 主要パラメータ測定範囲
- L: 0.001μH-9999H, C: 0.001pF-99.99mF, R/DCR: 0.0001Ω-99.99MΩ
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製品概要


この高精度卓上型デジタルLCRブリッジ測定器は、高度な自動平衡ブリッジアーキテクチャに基づいて設計されており、受動部品、能動材料、電気化学システム全体にわたって妥協のないインピーダンスおよびパラメータ特性評価を提供します。最大100kHzの帯域幅で動作し、1Hz単位の連続周波数分解能を備え、0.2%の基本測定精度を実現します。専用の直流抵抗(DCR)解析と電解コンデンサ特性評価モードを統合することで、厳格な分析ラボや高スループットの電子機器製造環境において不可欠な試験基準を確立します。
部品評価と自動品質ワークフローの両方を効率化するために設計された本器は、内蔵の多段階選別コンパレータ、プログラマブルバイアス電圧生成、および汎用性の高いテスト信号レベルを備えています。バッテリー研究ラボ、電子部品製造ライン、受入検査(IQC)ステーション、精密センサー製造施設など、重要な機能を提供します。高速サンプリング機能と柔軟なトリガー制御により、手動の卓上診断から完全に自動化されたハンドラー駆動の検査ステーションまで、スムーズに移行可能です。
工業グレードの電磁シールド、堅牢なフロントエンドアナログ信号調整、および包括的なオープン/ショート補正機能を備えたこの試験器は、過酷な生産シフト下でも優れたデータ安定性と再現性を維持します。鮮明な3.5インチTFTカラーディスプレイ、デュアル5桁パラメータ表示、および標準のSCPI準拠通信インターフェースにより、研究者やテストエンジニアに最大限の測定信頼性、完全なトレースドキュメント、迅速なシステム統合を提供します。
主な特長
- 自動平衡ブリッジアーキテクチャ: 高度な自動平衡ブリッジ回路を備えた4端子ケルビン測定トポロジーを実装し、リードインピーダンスと接触抵抗を効果的に排除することで、広いダイナミックレンジで0.2%の基本測定精度を確保します。
- 連続周波数およびレベル制御: 最大100kHzのテスト周波数能力を1Hz単位の微調整で提供し、10mVから2000mVまで1mV単位で調整可能なAC励起信号レベルと組み合わせることで、正確な動作条件下でのコンポーネントプロファイリングを実現します。
- DCRおよび電解コンデンサ試験の統合: ネイティブの直流抵抗(DCR)モードと専用の電解コンデンサ測定アルゴリズムを搭載しており、外部信号源や二次メーターを必要とせずに、包括的な受動部品の特性評価が可能です。
- 調整可能な内部DCバイアス源: 10mVから1500mV(1mV分解能)まで調整可能なプログラマブルDCバイアス出力を内蔵しており、正確な容量電圧係数解析、半導体接合評価、および分極誘電体試験を容易にします。
- 高度な5ビンコンパレータと選別: ハードウェア駆動の5ビン選別(合格3ビン、不合格1ビン、補助1ビン)機能を備え、音響アラームと-50%から+50%まで調整可能なスクリーニング公差制限により、生産ラインでの選別効率を最大化します。
- 高速測定エンジン: 2回/秒(低速)、4回/秒(中速)、8回/秒(高速)の取得レートを選択可能で、迅速な製造スループットと超低ノイズの分析精度の間で最適なバランスを調整できます。
- 包括的な治具校正: フルレンジのオープンおよびショート回路校正ルーチンをサポートし、浮遊容量、寄生インダクタンス、治具リード抵抗をゼロ化して、ラボグレードの測定整合性を維持します。
- 直感的なディスプレイと統計ログ: 3.5インチ1600万色TFTスクリーンを搭載し、メインおよびサブパラメータの5桁同時表示、リアルタイム統計ログ(最大、最小、平均)、およびバイリンガルシステムファームウェアの切り替えが可能です。
- 広範な産業用接続性: 標準のUSBデバイス、RS-232(またはRS-485)、および業界標準のSCPIコマンド構文をサポートするハンドラーインターフェースを装備しており、GPIBおよびUSBホストへの拡張オプションにより、自動試験装置(ATE)への統合が可能です。
アプリケーション
| アプリケーション | 説明 | 主な利点 |
|---|---|---|
| バッテリー電極および接触試験 | バッテリータブおよびセルアセンブリにおける接触抵抗、集電箔インピーダンス、および直流抵抗(DCR)を特性評価します。 | エネルギー貯蔵材料全体の低内部抵抗と優れた導電性を確保し、熱暴走を防ぎます。 |
| 受動部品製造 | 表面実装インダクタ、精密薄膜抵抗器、積層セラミックコンデンサ(MLCC)の高速選別および検証。 | 自動ハンドラーインターフェースを介した迅速な5ビン判定により、検査サイクル時間を大幅に短縮します。 |
| 電解コンデンサ検証 | 内部DCバイアス電圧下での等価直列抵抗(ESR)、損失係数(tan δ / D)、および分極容量を評価します。 | 欠陥のある誘電体部品がパワーエレクトロニクスアセンブリに混入するのを防ぎ、現場での信頼性を向上させます。 |
| 磁性材料特性評価 | フェライトコア、チョーク、高周波パルストランスのコア損失、インダクタンス(L)、および品質係数(Q)を周波数掃引して測定します。 | スイッチング電源設計における最適な磁気飽和と高周波応答の境界を特定します。 |
| 受入検査(IQC) | ベンダー仕様に対する受入受動電子部品の迅速なパラメータスクリーニングおよび公差検証(-50%〜+50%)。 | 基板実装前に仕様外のバッチを遮断し、後工程での製造手直しやコストを削減します。 |
| 圧電およびセラミックセンサーR&D | 連続周波数帯域にわたってインピーダンス(Z)、位相角(θ)、およびリアクタンス(X)をプロファイリングし、基本的な共振点を特定します。 | 音響トランスデューサや機能性セラミックスのマッピングに必要な1Hzの微細分解能と0.2%の精度を提供します。 |
| 半導体パッケージ試験 | 制御されたAC駆動レベル下でのリードフレーム抵抗、寄生パッケージインダクタンス、およびピン間リークを評価します。 | 高度な半導体パッケージアーキテクチャにおける高周波寄生信号の歪みを最小限に抑えます。 |
技術仕様
| 仕様パラメータ | 固定周波数シリーズ (CD07-4401 / CD07-4402 / CD07-4410) | 連続周波数シリーズ (CD07-4501 / CD07-4502 / CD07-4510) |
|---|---|---|
| 基本モデル識別子 | CD07-4401: 10固定ポイント (100 Hz – 10 kHz) CD07-4402: 12固定ポイント (100 Hz – 20 kHz) CD07-4410: 16固定ポイント (100 Hz – 100 kHz) |
CD07-4501: 10 Hz – 10 kHz (連続, 1 Hzステップ) CD07-4502: 10 Hz – 20 kHz (連続, 1 Hzステップ) CD07-4510: 10 Hz – 100 kHz (連続, 1 Hzステップ) |
| 基本測定精度 | 0.20% | 0.20% |
| ディスプレイタイプおよび解像度 | 3.5インチTFT LCD, 480 × 320解像度, 1600万色 | 3.5インチTFT LCD, 480 × 320解像度, 1600万色 |
| 表示桁数 | メインパラメータ: 5桁; サブパラメータ: 5桁 | メインパラメータ: 5桁; サブパラメータ: 5桁 |
| メインパラメータ | L (インダクタンス), C (容量), R (抵抗), Z (インピーダンス) | L (インダクタンス), C (容量), R (抵抗), Z (インピーダンス) |
| サブパラメータ | X (リアクタンス), D (損失係数), Q (品質係数), θ (位相角), ESR (等価直列抵抗) | X (リアクタンス), D (損失係数), Q (品質係数), θ (位相角), ESR (等価直列抵抗) |
| インダクタンス測定範囲 (L) | 0.001 μH – 9999 H | 0.001 μH – 9999 H |
| 容量測定範囲 (C) | 0.001 pF – 99.99 mF | 0.001 pF – 99.99 mF |
| 抵抗測定範囲 (R / DCR) | 0.0001 Ω – 99.99 MΩ | 0.0001 Ω – 99.99 MΩ |
| 測定速度 | 低速: 2回/秒; 中速: 4回/秒; 高速: 8回/秒 | 低速: 2回/秒; 中速: 4回/秒; 高速: 8回/秒 |
| テスト信号励起レベル | 6固定レベル: 0.1 V, 0.3 V, 0.6 V, 1.0 V, 1.5 V, 2.0 V | 0.1 V – 2.0 V 連続可変, 1 mVステップ |
| 信号源出力インピーダンス | 切替式 300 Ω, 1000 Ω | 切替式 300 Ω, 1000 Ω |
| 内部DCバイアス源 | 0 mV – 1500 mV 調整可能, 1 mVステップ | 0 mV – 1500 mV 調整可能, 1 mVステップ |
| レンジ選択モード | オートレンジおよびマニュアルレンジ固定 | オートレンジおよびマニュアルレンジ固定 |
| 校正機能 | フルスケール・オープン回路およびショート回路ゼロクリア | フルスケール・オープン回路およびショート回路ゼロクリア |
| スクリーニングおよび公差設定 | 制限範囲: -50% ~ +50%; 固定標準ポイント: 1%, 5%, 10%, 20% | 制限範囲: -50% ~ +50%; 固定標準ポイント: 1%, 5%, 10%, 20% |
| コンパレータ選別 | 5ビン: 合格3ビン、不合格1ビン、補助1ビン(ビープ音アラーム付) | 5ビン: 合格3ビン、不合格1ビン、補助1ビン(ビープ音アラーム付) |
| データログおよび統計 | 最大、最小、平均値の記録 | 最大、最小、平均値の記録 |
| コマンドセットおよびプロトコル | 標準SCPIプロトコル | 標準SCPIプロトコル |
| 標準通信インターフェース | RS-232 (または RS-485), USBデバイス, ハンドラー | RS-232 (または RS-485), USBデバイス, ハンドラー |
| オプション通信インターフェース | GPIB (IEEE-488), USBホスト | GPIB (IEEE-488), USBホスト |
| 電源要件 | 220 V AC ±10% または 110 V AC ±10%, 45 Hz – 65 Hz | 220 V AC ±10% または 110 V AC ±10%, 45 Hz – 65 Hz |
| 消費電力 | < 10 W | < 10 W |
| 動作環境 | 温度: 10°C ~ +40°C; 湿度: ≤ 90% RH (0°C ~ 40°C時) | 温度: 10°C ~ +40°C; 湿度: ≤ 90% RH (0°C ~ 40°C時) |
| 保管環境 | 温度: -10°C ~ +60°C | 温度: -10°C ~ +60°C |
| 標準付属アクセサリー | 3芯電源ケーブル (30A51), 4端子ケルビンテストケーブル (35A51), ユーザーマニュアル | 3芯電源ケーブル (30A51), 4端子ケルビンテストケーブル (35A51), ユーザーマニュアル |
| オプションのテスト治具およびケーブル | GPIBケーブル (32P01), RS-232シリアルケーブル (32P04), USBデータケーブル (32P05), 2m/4m延長テストケーブル (35P01), リード型ケルビンテスト治具 (35A52), SMDパッチ部品治具 (35P02), 4線式LCR SMDピンセット/ペン (35P03), 4端子ペアケルビン治具, 金メッキショートプレート (35A53) | GPIBケーブル (32P01), RS-232シリアルケーブル (32P04), USBデータケーブル (32P05), 2m/4m延長テストケーブル (35P01), リード型ケルビンテスト治具 (35A52), SMDパッチ部品治具 (35P02), 4線式LCR SMDピンセット/ペン (35P03), 4端子ペアケルビン治具, 金メッキショートプレート (35A53) |
本製品を選ぶ理由
- 卓越した計量整合性: 0.2%の基本精度を持つ精密な自動平衡アナログフロントエンドを中心に構築されており、科学論文や産業コンプライアンスに不可欠な、安定したドリフトのないインピーダンス測定を保証します。
- DCRとACインピーダンスの二役をこなす汎用性: 高分解能直流抵抗(0.0001 Ωまで)と最大100kHzのACインピーダンス解析を1台のコンパクトなユニットに統合することで、テストベンチを整理し、設備投資を削減します。
- シームレスな自動製造統合: 標準のハンドラー、RS-232/485、USBインターフェースと堅牢なSCPIコマンド解析を組み合わせることで、高速選別機、ロボットピックアンドプレースライン、集中工場実行システム(MES)への統合が容易です。
- 包括的な治具およびアクセサリーエコシステム: 4端子ケルビンテストリードからSMDパッチ部品用ピンセット、金メッキ校正プレートまで、当社の完全なアクセサリースイートは、あらゆるコンポーネント形状における寄生誤差を排除します。
パーソナライズされた見積もりの受け取り、カスタムテスト治具構成の依頼、またはこの卓上型デジタルブリッジがお客様のテストワークフローをどのように最適化できるかについての議論をご希望の場合は、今すぐ当社の技術エンジニアリングチームまでお問い合わせください。
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