バッテリーテスター
デュアルチャンネルDDSファンクション/任意波形発生器 高精度信号源
商品番号 : CD08
価格は以下に基づいて変動します 仕様とカスタマイズ
- サンプリングレートおよび垂直分解能
- 200 MSa/s、13ビット、8kptsメモリ長
- 最大出力周波数
- 最大60 MHz（正弦波）
- 統合周波数カウンタ
- 1 Hz ～ 100 MHz / 32ビットカウンタ
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製品概要
この高性能なデュアルチャンネル・ダイレクト・デジタル・シンセシス（DDS）ファンクション/任意波形発生器は、厳格な電子特性評価や高度な実験ワークフローに求められる信号の精度、安定性、および汎用性を提供します。位相同期機能を備えた2つの独立したチャンネルを搭載しており、研究者や品質管理エンジニアは、標準的な周期波形、複雑な変調信号、およびマイクロヘルツ単位の周波数分解能を持つカスタム任意波形を合成できます。
バッテリー研究、先端材料評価、パワーエレクトロニクス開発、半導体検証、センサー校正などの分野での統合を想定して設計されており、最大60MHzまでのクリーンで低歪みな信号を生成します。鮮明な3.5インチ 480×320カラーTFT液晶画面上の直感的なグラフィカル・ユーザー・インターフェースにより、研究室や産業試験環境全体で迅速なパラメータ調整とシームレスなプロトコル設定が可能です。
すべての信号出力に対する60秒間の完全な短絡保護を含む堅牢なハードウェア保護と、産業グレードのコンポーネントにより、長期的な動作の再現性と熱安定性が保証されています。内蔵の100MHzハードウェア周波数計と32ビットカウンターが診断ワークフローを効率化し、オールインワンのベンチトップ型信号生成・測定プラットフォームを提供します。
主な特長
- 高忠実度DDS信号エンジン: 200 MSa/sのサンプリングレート、13ビットの垂直分解能、8,192ポイントの波形ストレージ深度を組み合わせ、マイクロヘルツ単位の周波数分解能で純粋かつ低ジッターのアナログ信号を生成します。
- 位相同期を備えたデュアル独立チャンネル: 両方の出力チャンネルは完全に独立して動作するか、0〜359.9°の範囲で0.1°の分解能で位相をロックでき、精密な差動、直交、または多相試験が可能です。
- 豊富な波形ライブラリとカスタムストレージ: 5種類の標準波形、32種類の内蔵特殊任意波形、および最大50個のユーザー定義任意波形を保存可能な内部不揮発性メモリスロットを搭載しています。
- 多彩なアナログ/デジタル変調スイート: 内部および外部のAM、FM、PMアナログ変調に加え、複雑な通信および刺激プロトコルのためのASK、FSK、PSKデジタル変調方式をサポートしています。
- 包括的なスイープおよびバースト動作: 線形および対数周波数スイープに加え、トリガー可能な内部、外部、または手動ソースを備えた広範なバースト生成モード（1〜65,535サイクル、無限、またはゲート）を提供します。
- 統合型100 MHz周波数カウンター: 最大100 MHzまでの高精度周波数解析、最大4,294,967,295までの32ビットイベントカウント、および1 ns分解能のパルス幅/周期タイミングが可能な専用ハードウェア測定チャンネルを搭載しています。
- 設定可能なエッジタイムパルス生成: 1 nsの精度で最小20 nsまでのパルス幅制御と、デジタルデバイス特性評価のために最小20 nsまで調整可能なエッジ遷移時間を個別に制御できます。
- 鮮明なグラフィカルインターフェースと豊富な接続性: 3.5インチ16ビットトゥルーカラーTFT液晶（480×320解像度）、バイリンガルメニュー、および自動データ収集用の標準RS232およびUSBデバイスポートを搭載しています。
アプリケーション
| アプリケーション | 説明 | 主な利点 |
|---|---|---|
| バッテリーおよび電気化学インピーダンス試験 | 電気化学セルのダイナミクスと界面動態を分析するための、超安定した低周波正弦波および任意励起信号を生成します。 | 2 mVppまでの精密な振幅制御により、1 μHzまでのクリーンなサブヘルツ信号を提供します。 |
| 半導体およびセンサー校正 | センサーの応答曲線、ADCの直線性、オペアンプのしきい値を評価するための精密なパルス、ランプ、アナログ変調信号を提供します。 | 優れた振幅平坦度（±0.4 dB）と低い高調波歪み（<0.8%）が測定アーティファクトを防ぎます。 |
| パワーエレクトロニクスおよびゲートドライバーR&D | パワー半導体スイッチにストレスを与えるための、ゲートドライブパルス、20 ns未満の遷移時間を持つ方形波、および特殊なバーストシーケンスをシミュレートします。 | 高速なエッジ遷移速度と堅牢な短絡出力保護が機器を保護します。 |
| 通信システムシミュレーション | RFフロントエンドおよび受信機試験用に、ASK、FSK、PSKのデジタルキーイング信号とAM/FM/PM変調キャリアを生成します。 | 最大60 MHzまでの広範なキャリア周波数サポートと、多彩な内部/外部変調制御。 |
| 超音波および圧電デバイス駆動 | 共振トランスデューサー、圧電アクチュエータ、音響センサー全体で、位相同期されたデュアルチャンネル励起を提供します。 | 0.1°の高分解能位相調整により、精密な多チャンネル共振アライメントを容易にします。 |
| 学術研究および自動試験ベンチ | 大学の研究室や産業用自動試験装置（ATE）において、多目的な信号刺激および自動検証ソースとして機能します。 | 標準のRS232/USBインターフェースにより、SCPIコマンドスクリプトの迅速な作成と自動データロギングを容易にします。 |
技術仕様
| モデルシリーズ / 品番 | CD08-15 | CD08-25 | CD08-40 | CD08-60 |
|---|---|---|---|---|
| 正弦波周波数範囲 | 1 μHz〜15 MHz | 1 μHz〜25 MHz | 1 μHz〜40 MHz | 1 μHz〜60 MHz |
| 方形波周波数範囲 | 1 μHz〜15 MHz | 1 μHz〜15 MHz | 1 μHz〜15 MHz | 1 μHz〜15 MHz |
| 三角波周波数範囲 | 1 μHz〜15 MHz | 1 μHz〜15 MHz | 1 μHz〜15 MHz | 1 μHz〜15 MHz |
| パルス波周波数範囲 | 100 μHz〜6 MHz | 100 μHz〜6 MHz | 100 μHz〜6 MHz | 100 μHz〜6 MHz |
| 任意波形範囲 | 1 μHz〜6 MHz | 1 μHz〜6 MHz | 1 μHz〜6 MHz | 1 μHz〜6 MHz |
| ノイズ帯域幅 (-3dB) | 7 MHz帯域幅 | 7 MHz帯域幅 | 7 MHz帯域幅 | 7 MHz帯域幅 |
| 周波数分解能 | 1 μHz | 1 μHz | 1 μHz | 1 μHz |
| 周波数精度 | ±5 ppm | ±5 ppm | ±5 ppm | ±5 ppm |
| 周波数安定度 | ±1 ppm / 3時間 | ±1 ppm / 3時間 | ±1 ppm / 3時間 | ±1 ppm / 3時間 |
波形および出力特性
| 仕様パラメータ | 技術値 / 特性 |
|---|---|
| 波形タイプ | 正弦波、方形波、三角波、パルス、ノイズ、任意波形（DC含む） |
| 任意波形 | 内蔵32プロファイル、ユーザー定義カスタマイズ可能ストレージ50箇所 |
| 波形長 | 8,192ポイント（8k深度） |
| サンプリングレート | 200 MSa/s |
| 垂直分解能 | 13ビット |
| 正弦波高調波抑圧 | ≥ 45 dBc (< 1 MHz); ≥ 40 dBc (1 MHz〜20 MHz) |
| 全高調波歪み (THD) | < 0.8% (20 Hz〜20 kHz, 0 dBm) |
| 方形波立ち上がり/立ち下がり時間 | < 20 ns (オーバーシュート < 5%) |
| 方形波デューティサイクル範囲 | Freq < 100 kHz: 1%〜99%; 100 kHz ≤ Freq < 5 MHz: 20%〜80%; Freq ≥ 5 MHz: 40%〜60% (0.1%分解能) |
| パルス幅およびエッジ遷移 | パルス幅最小20 ns (1 ns分解能); エッジ遷移時間最小20 ns; ジッター 6 ns + 周期の0.1% |
| ノコギリ波/ランプ直線性および対称性 | 直線性 ≥ 98% (0.01 Hz〜10 kHz); 対称性 0.0%〜100.0% (0.1%分解能) |
| 出力振幅範囲 (50Ω負荷) | Freq < 10 MHz: 2 mVpp〜20 Vpp; 10 MHz ≤ Freq < 30 MHz: 2 mVpp〜10 Vpp; Freq ≥ 30 MHz: 2 mVpp〜5 Vpp |
| 振幅分解能および精度 | 1 mV分解能; 精度: ±(設定値の1% + 2 mVpp) (1 kHz正弦波, 0オフセット, > 10 mVpp) |
| 振幅平坦度 (ref 1 kHz, 1Vpp) | ±0.4 dB (< 10 MHz); ±1.0 dB (≥ 10 MHz) |
| DCオフセット範囲および分解能 | Amp > 0.1 V: ±10 Vpk (ac + dc); 2 mV < Amp ≤ 0.1 V: ±0.250 Vpk (ac + dc); 分解能: 1 mV |
| 位相調整および分解能 | 0°〜359.9° (0.1°分解能) |
| 出力保護およびインピーダンス | 50 Ω ± 10% (標準); 出力は最大60秒間の短絡状態に対して保護されています |
変調、スイープ、およびバースト仕様
| 機能タイプ | サポートされる仕様 |
|---|---|
| 変調チャンネルおよびキャリア | CH1またはCH2 (デフォルトCH1); 正弦波、方形波、ランプ、パルス、任意波形（DCを除く） |
| AM変調 | ソース: 内部/外部; 変調波: 正弦波、方形波、三角波、ランプ; 変調周波数: 2 mHz〜20 kHz; 深さ: 0%〜120% |
| FM変調 | ソース: 内部/外部; 変調波: 正弦波、方形波、三角波、ランプ; 変調周波数: 2 mHz〜20 kHz; 偏差: 0〜最大キャリア周波数 |
| PM変調 | ソース: 内部/外部; 変調波: 正弦波、方形波、三角波、ランプ; 変調周波数: 2 mHz〜20 kHz; 位相偏差: 0°〜360° |
| ASK / FSK変調 | ソース: 内部/外部; 変調波: 50%方形波; レート: 2 mHz〜1 MHz; 深さ: 0〜キャリア振幅 / FSKキーイング |
| PSK変調 | ソース: 内部/外部; 変調波: 50%方形波; 変調レート: 2 mHz〜1 MHz; 位相偏差: 0°〜360° |
| スイープ機能 | チャンネル: CH1/CH2; タイプ: 線形、対数; スイープ時間: 1 ms〜500.000 s; 方向: 前方向、逆方向 |
| バースト機能 | パルス数: 1〜65,535サイクル、無限、ゲート; 開始/停止位相: 0°〜360°; 内部周期: 1 μs〜500 s |
| トリガーソースおよび入力 | トリガー: 内部、外部、手動; 入力電圧: 2 Vpp〜20 Vpp (AC/DC); パルス幅: > 100 ns |
| アナログ変調入力 | 入力インピーダンス: 1 MΩ; 電圧信号範囲: ±2.5 V (ac + dc) |
| SYNC出力 | TTL互換、50 Ωインピーダンス、立ち上がり/立ち下がり < 25 ns、最大周波数 25 MHz |
測定、ハードウェア、および環境仕様
| 仕様パラメータ | 値 / 動作範囲 |
|---|---|
| 周波数カウンター範囲 | 1 Hz〜100 MHz (ゲート時間: 0.01 s〜10 s 連続調整可能) |
| カウンター容量および結合 | 0〜4,294,967,295 (32ビット); 手動カウントモード; ACまたはDC結合 (入力: 2 Vpp〜20 Vpp) |
| 周期およびパルス幅測定 | 1 ns分解能; 最大測定可能時間: 20 s |
| 表示画面 | 3.5インチTFT液晶、480 × 320解像度、16ビットトゥルーカラー、バイリンガル（EN/ZH）メニューサポート |
| 通信インターフェース | RS232 (標準)、USBデバイス (標準)、USBホスト (オプション) |
| 電源電圧および消費電力 | 220V AC ± 10% または 110V AC ± 10% (オプション); 消費電力 < 15 W |
| 動作および保管温度 | 動作: +10°C〜+40°C; 非動作 / 保管: -10°C〜+60°C |
| 環境湿度範囲 | ≤ 90% 相対湿度 (0°C〜40°Cの範囲内) |
| ユニット寸法および重量 | 265 mm (幅) × 105 mm (高さ) × 305 mm (奥行); 正味重量: 2.6 kg |
| 標準付属アクセサリー | モデル30A51 3芯電源コード (1本)、モデル33A52 BNC同軸ケーブル (1本) |
本製品を選ぶ理由
- 産業用ハードウェアの信頼性: プレミアムなDDS合成回路、安定した水晶発振器、および出力短絡保護を備えており、過酷な日常の研究室や製造現場の要求に耐えうる設計です。
- 優れたマルチドメイン汎用性: デュアルチャンネル任意波形生成、アナログ/デジタル変調、スイープ、バースト生成、および高周波カウンター機能をコンパクトな筐体に統合しています。
- 精密な信号純度: 低い全高調波歪み（<0.8%）、高速なパルス遷移（<20 ns）、および微細な位相同期（0.1°）を実現し、研究グレードのセットアップにおける測定の不確実性を排除します。
- ターンキーラボ統合: 標準のUSBデバイスおよびRS232インターフェースにより、自動試験環境、バッテリーサイクルラック、およびリモートコンピュータ化された試験ベンチとの統合を簡素化します。
お見積もりのご依頼や、研究室向けのカスタマイズされた試験セットアップソリューションについては、当社の技術営業チームまで今すぐお問い合わせください。
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