高精度コンポーネントインピーダンス・静電容量測定用ハンディデジタルLCRブリッジメーター

製品概要

このハンディデジタルLCRブリッジメーターは、ベンチトップクラスのインピーダンス測定機能を、超ポータブルで堅牢なフィールド計測器として提供します。高スループット試験、研究開発、部品選別向けに設計されており、高度なデジタル信号処理と鮮明な2.8インチカラーTFTディスプレイを統合しています。広範な周波数スペクトルにわたるマルチパラメータ特性評価が可能で、受動電子部品、電解コンデンサ、バッテリー、磁性材料の特性評価に不可欠なツールです。

要求の厳しい研究開発環境や迅速な品質管理ワークフローに対応するため、1Hz分解能で最大100kHzまでの連続周波数チューニング、精密な直流抵抗（DCR）評価、プログラム可能な内部DCバイアス電圧を備えています。部品の自動識別、公差選別、偏差測定を自動化し、部品製造、家電製品の検証、バッテリーセル製造ラインにおける反復的な検査手順を効率化します。

耐衝撃性の産業用シャーシで構成され、大容量の充電式リチウムバッテリーで駆動するため、制御された実験室環境と過酷なフィールドサービス環境の両方で信頼性の高い性能を保証します。フルスピードUSB接続と業界標準のSCPIプロトコル準拠により、シームレスな自動データ収集、リモート制御、および最新の試験インフラへのスムーズな統合を実現します。

主な特長

• 最大100kHzの連続周波数出力： 高度なダイレクトデジタルシンセシス（DDS）により、100Hzから100kHzまで1Hzステップで連続的にテスト周波数を変更可能。共振追跡や広範な動作帯域でのインピーダンスプロファイリングを正確に行えます。
• 0.2%の高精度測定エンジン： 精密なアナログフロントエンドアーキテクチャにより、4.5桁の分解能で0.2%の基本測定精度を実現。インダクタ、コンデンサ、抵抗器の微細な変化を捉え、重要な研究開発をサポートします。
• 包括的な一次・二次パラメータ試験： 一次パラメータ（L、C、R、Z）と重要な二次指標（X、D、Q、θ、ESR）を同時に評価し、エネルギー損失、位相角、等価直列抵抗に関する包括的な洞察を提供します。
• 専用の電解コンデンサおよびDCRモード： 有極性電解コンデンサを正確に評価するための専用アルゴリズムと、コイル、トランス、接触抵抗インターフェースの直流抵抗（DCR）解析機能を搭載しています。
• プログラム可能な内部バイアス電圧： 10mVから500mVまで1mV単位で調整可能な内部DCバイアスを生成し、バイアス依存性のあるセラミックや半導体接合の動的特性評価を実際の動作条件下で再現します。
• インテリジェントなコンポーネント自動識別： 接続されたコンポーネントの種類（抵抗器、コンデンサ、インダクタ）を自動検出し、手動介入なしで最適な測定パラメータと等価回路モデルを選択します。
• 高度なスクリーニングと偏差選別： 1%から50%までカスタマイズ可能なコンポーネント公差選別（標準プリセット：1%、5%、10%、20%）に加え、リアルタイムのパーセント偏差表示により、迅速かつエラーのない品質スクリーニングを実現します。
• 高解像度2.8インチカラーTFTディスプレイ： 明るく高コントラストな画面に、豊富なグラフィカルデータ、テスト設定、測定値を表示。バックライト強度の調整や多言語システム設定にも対応しています。
• フルスピードUSB通信とSCPI互換性： 標準的なSCPIプロトコルコマンドアーキテクチャを介した双方向データ転送、外部システム同期、自動テストスクリプトの実行を容易にします。
• 完全な校正と治具の汎用性： 内蔵の開放および短絡校正ルーチンにより、寄生リードインピーダンスを除去。ケルビンクリップ、ラバーテストリード、精密SMDピンセット治具をサポートします。

用途

技術仕様

本製品を選ぶ理由

• 真のフィールド対応フォーマットでベンチトップの精度を： 0.2%の測定精度を実現するプレミアムなアナログフロントエンドを搭載。ポータブルな利便性と計測グレードの精度という、従来のトレードオフを解消しました。
• 多用途なマルチ周波数インピーダンス特性評価： 最大100kHzまで連続調整可能なテスト周波数とプログラム可能なDCバイアス電圧により、感度の高い電気化学、磁気、誘電体サンプルの正確な動作環境を再現できます。
• 高スループット検査ワークフローに最適化： 内蔵の自動識別、構成可能なマルチビン公差選別、即時の偏差表示により、電子部品やバッテリー材料の品質保証サイクルを劇的に加速します。
• 堅牢な接続性と完全な校正の整合性： USB経由の完全なSCPIプロトコル準拠により、自動製造テストリグへの統合が容易。また、簡便な開放/短絡校正により、再現性と追跡可能な一貫したテスト指標を保証します。

見積もりのご依頼、治具の互換性に関するご相談、またはお客様のラボワークフローに最適なインピーダンス試験ソリューションの構成については、今すぐ当社のテクニカルセールスチームまでお問い合わせください。

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